老化房在電子產(chǎn)品行業(yè)中起什么作用？
　　老化房是針對高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)。
　　在電子產(chǎn)品在加工過程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，將引入各種缺陷（即便設(shè)計再好的產(chǎn)品亦如此）。無論是加工缺陷還是元器件缺陷，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷，例如短路/斷路。
　　而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時可以使用，但在使用中缺陷會很快暴露出來，產(chǎn)品不能正常工作，例如焊錫不足，產(chǎn)品雖然可以用，但輕微振動可能就會使焊點(diǎn)斷路。明顯缺陷可通過常規(guī)檢驗手段（即ICT:在線測試，In-Circuit Test，是通過對在線元器件（制成板上的元器件）的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試手段。
　　它主要檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)、FT等）加以發(fā)現(xiàn)。潛在缺陷則無法用常規(guī)檢驗手段發(fā)現(xiàn)，而是運(yùn)用老化的方法來剔除。如果老化方法效果不好，則未被剔除的潛在缺陷將zui終在產(chǎn)品運(yùn)行期間以早期失效（或故障）的形式表現(xiàn)出來，從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加。